【摘要】本文提出了一种应用于数字高速接口电路且采用工作在亚阈值区的pMOS晶体管和两级运放构成的参考
摘要：全面分析了CMOS带隙基准的主要非理想因素，给出了相应的补偿方法，并以此为基础设计了一种高精度
